【特許取得情報】Ａ＆Ｄは、X線検査機の「かみこみ」検査技術の特許を取得いたしました。 (1/3ページ)
株式会社エー・アンド・デイ（本社：東京都豊島区、代表取締役執行役員社長：森島 泰信）は、食品など包装物のシール部に発生するおそれがある「かみこみ」を検査するX線検査機の新技術を開発し、特許を取得いたしました。
株式会社エー・アンド・デイ（本社：東京都豊島区、代表取締役執行役員社長：森島 泰信）は、食品など包装物のシール部に発生するおそれがある「かみこみ」を検査するX線検査機の新技術を開発し、特許を取得いたしました。
【1．取得した特許の概要】
食品など包装物のかみこみ不良は、包装体の開口部をシールした際に商品を挟み込んだり、袋がよれて皺になることによって発生します。かみこみ不良が発生すると気密性が保てず、商品の品質を保持できなくなるため検査する必要がありますが、包装紙によっては中の商品が見えないため、光学カメラや光電センサーで検知することができません。
そこでＸ線検査機が使用されますが、包装物は商品を収容したことにより膨らみ、外縁の一部がゆがんでいたり、袋が傾いていてシール領域を正確に特定できない場合があります。
このたびＡ＆Ｄが特許を取得した技術は、シール領域または収容領域のサンプル画像を取得し、そのサンプル画像を包装物のＸ線透過画像に適合させることにより、包装物のシール領域または収容領域を正しく特定し、良否判定を行う技術です。
